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GE0164 单波 100G CDR光时恢复仪
支持60 GBd波特率的光CDR单元;高效的时钟数据恢复解决方案,适用于研发和生产线使用。支持NRZ和PAM4信号;随机抖动非常低。¥ 0.00Details >>
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GE08112C 800G 高速误码测试仪
GE08112C误码仪为高性能,低成本,操作简单,功能丰富的8路112G 高速码流发生器及分析设备。支持速率范围从25.78125-56.25GBaud,NRZ和PAM4,用于光通信50G及以下速率的光模块测试。支持速率25.78125/26.5625/28125/51.5625/53125/56.25 GBaud。¥ 0.00Details >>
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CDR1010 1-10G 光时恢复仪
支持10G波特率的光/电CDR单元;高效的时钟数据恢复解决方案,适用于研发和生产线使用。支持1G-11G信号;随机抖动非常低自动锁定。¥ 0.00Details >>
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CDR1028C 50G 光时恢复仪
支持28 GBd波特率的光/电CDR单元;高效的时钟数据恢复解决方案,适用于研发和生产线使用。支持NRZ和PAM4信号;随机抖动非常低自动锁定。¥ 0.00Details >>
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GE0194A 2×200G 双光口高速误码测试仪
GE0194A误码仪为高性能,低成本,操作简单,功能丰富的2个200G QSFP56接口的高速码流发生器及分析设备。支持速率范围从速率通道10G-50G,用于光通信50G及以下速率的光模块测试。
支持速率10.3125/14.025/20/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/28.9GBaud。
支持测试40G QSFP+、100G QSFP28、200G QSFP56光模块和AOC。¥ 0.00Details >>
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GE0256A 200G 高速误码测试仪
GE0256A误码仪为高性能,低成本,操作简单,功能丰富的4路50G高速码流发生器及分析设备。
支持速率范围从10G-50G,用于光通信50G及以下速率的光模块测试。
支持速率9.9532/10.1376/10.3125/10.5187/10.6642/10.7092/11.3170/12/12.5/14.0250/20.2752/20.6250/21/24/24.33/25/25.3440/25.78125/ 26/26.5625/27.9524/28.0500/28.2/28.9 Gbaud。¥ 0.00Details >>
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GE0456D 400G 高速误码测试仪
GE0456D误码仪为高性能,低成本,操作简单,功能丰富的8路50G高速码流发生器及分析设备。
支持速率范围从10G-50G,用于光通信50G及以下速率的光模块测试。
支持速率10.3125/14.025/20/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/28.9 GBaud。¥ 0.00Details >>
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GE0456C 400G 高速误码测试仪
GE0456A误码仪为高性能,低成本,操作简单,功能丰富的8路50G 高速。
码流发生器及分析设备。支持速率范围从10G-50G,用于光通信50G及以下速率的光模块测试。
支持速率10.3125/14.025/20/25/25.78125/26.5625/2789/27.95/28.05/28.9 GBaud。¥ 0.00Details >>